原子力显微镜(原子力显微镜和扫描电镜的区别)

原子力显微镜AFM虽然名字里有“显微镜”三个字，但它并不像光学显微镜和电子显微镜那样能“看”微观下的物体，而是通过一根小小的探针来间接地感知物体表面的结构，得到样品表面的三维形貌图象，并可对三维形貌图象进行粗糙度计算厚度步宽方框图或颗粒度分析AFM主要由带针尖的微悬臂微悬臂运动。

3 激光共聚焦原子力显微镜结合了常规光学显微镜激光显微镜和原子力显微镜三种功能常规光学显微镜和激光显微镜同轴设置，激光显微镜采用405nm激光光源，平面XY分辨率能达到120nm，适用于小尺寸样品的测试和原子力测试时的定位4 图2和3展示了激光显微镜获得的光刻胶图形和聚合物划痕的三维形貌图5。

纳米材料科学的发展和纳米制备技术的进步，将需要更新的测试技术和表征手段，以评价纳米粒子的粒径形貌分散和团聚状况原子力显微镜是以扫描隧道显微镜基本原理发展起来的扫描探针显微镜原子力显微镜的出现无疑为纳米科技的发展起到了推动作用选择原子力显微镜推荐Park NXHybrid WLIPark NXHybrid。

原子力显微镜是利用检测样品表面与细微的探针尖端之间的相互作用力原子力测出表面的形貌探针尖端在小的轫性的悬臂上，当探针接触到样品表面时，产生的相互作用，以悬臂偏转形式检测样品表面与探针之间的距离小于3－4nm，以及在它们之间检测到的作用力，小于10－8N激光二极管的光线聚焦在悬臂的背面上。

原子力显微镜是一种利用原子，分子间的相互作用力来观察物体表面微观形貌的新型实验技术它有一根纳米级的探针，被固定在可灵敏操控的微米级弹性悬臂上当探针很靠近样品时，其顶端的原子与样品表面原子间的作用力会使悬臂弯曲，偏离原来的位置根据扫描样品时探针的偏离量或振动频率重建三维图像就能间接获得。

电子显微镜是利用电子束代替可见光来成像的纤维设备，由于普通光学显微镜受可见光波长限制，分辨率不高，而电子束的德布罗意波长远远低于可见光，分辨率自然更高原子力显微镜是一种可用来研究固体材料表面结构的分析仪器，它利用被测物体表面与感应元件之间的原子力相互作用来探测物体表面的情况，与电子显微镜。

原子力显微镜，一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器简介信息 生物型原子力显微镜 它主要由带针尖的微悬臂微悬臂运动检测装置监控其运动的反馈回路使样品进行扫描的压电陶瓷扫描器件计算机控制的图像采集显示及处理系统组成微悬臂运动可用如隧道电流检测等电学方法或光束偏转。

原子力显微镜Atomic Force Microscope，简称AFM主要依赖于一种精密机制来工作，那就是探测样品表面与微型力敏感元件之间极其微弱的原子间相互作用力AFM的核心是一个对微弱力异常敏感的弹性微悬臂，其一端牢固地固定，另一端则装配了一个微小的针尖当这个针尖轻轻触及样品表面时，两者之间的原子间。